Как сообщает fertilizerdaily.ru, рис-сырец — важный сельскохозяйственный продукт, а точное картирование полей риса-сырца имеет важное значение для повышения продовольственной безопасности, содействия устойчивому сельскому хозяйству, повышения урожайности и содействия технологическому прогрессу.

Исследовательская группа под руководством профессора Сун Сяобина из Хэфэйского института физических наук Китайской академии наук разработала метод точного картирования выращивания риса-сырца в Аньхое, провинции на востоке Китая.

Исследователи объединили годовые фенологические характеристики с изображениями Sentinel-1/2, используя спутниковое дистанционное зондирование и машинное обучение для улучшения сельскохозяйственного мониторинга.

Они вывели годовые фенологические изменения из проверенных наземных данных и присвоили несколько индексов растительности различным фенологическим фазам.

Это помогает им получать карты распределения посевов риса на уровне пикселей с помощью машинного обучения.

Исследовательская группа использовала метод автоматического расширения выборки для увеличения размера выборки и стратификации различных сеток в пределах исследуемой области.

Исследователи подтвердили результаты этого метода с помощью матрицы путаницы, Anhui Statistical Yearbook и других алгоритмов картирования риса с аналогичным разрешением. Метод продемонстрировал высокую точность в основных зернопроизводящих районах Аньхоя с погрешностью менее 10% и показал практическую ценность в сельском хозяйстве.

Кроме того, методы расширения выборки, разработанные в этом исследовании, можно адаптировать для картирования других значимых товарных культур.

По словам профессора Суна, это исследование объединяет фенологические характеристики с данными оптического радара и радара с синтезированной апертурой для оценки площади посевов и будет иметь практическую ценность для будущих исследований сельскохозяйственных культур и урожайности.